1. 毕业设计（论文）主要目标：
使用以STMF407ZGT6为处理器的开发板设计一个平面天线近场测量扫描架控制系统，通过控制X向和Y向电机的转速，实线天线近场测量所需的X向和Y向位移精确扫描，配合电场测量系统，实线天线的近场测量。
2. 毕业设计（论文）主要内容：
设计一款3轴精密运动扫描平台，它主要由X轴运动方向、Y轴运动方向和Z轴运动方向组成，需要最大承载20kg左右的测量探头，通过计算机控制Z轴平台探头与天线口径距离，并且指令扫描架运动平台完成对天线口径面X与Y方向的扫描。首先对控制系统的硬件电路进行设计，围绕近场扫描架工作特性，给出控制系统硬件总体结构框图。天线近场测量扫描架控制系统包含上位机通信模块、电机驱动模块、电机控制模块、位移反馈模块、存储模块、最小系统模块等。随后对每个电路模块进行详细的设计，同时给出控制电路板PCB设计过程中需要注意的细节。
运用Keil uVision5仿真软件对开发板进行程序编写，使之能够控制开发板并使电机能够前后与上下进行正常运转。之后进行控制系统的硬件电路和的软件联合调试研究。首先对硬件电路进行测试，随后在硬件电路基础上，分别对串口通信调试、电机控制的PWM生成波形测试以及步进电机转速测试等部分。
3. 主要参考文献
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[1]许强.基于STM32F4的时栅位移传感器信号处理系统集成化设计与实现[D].重庆：重庆理工大学，2014.[2]李文真.基于STM32的步进电机伺服系统的研究与设计[D].西安：西安工程大学，2015. [3]孟丽华.基于STM32F4的RS485通讯管理机的研究[D].天津：河北工业大学，2012.[4] 廖义奎．ARM Cortex-M4 嵌入式实战开发精解——基于 STM32F4[M]．北京：北京航空航天大学出版社，2013．[5]王彬虎.平面近场测量技术及误差分析[D].长沙：国防科学技术大学，2009.[6]马凯.天线近场测量系统中的控制系统研究[D].西安：西安电子科技大学，2011.[7] Holland C, Times E E. ST adds Cortex-M4 devices to STM32 portfolio[J]. EDN, 2011.[8] Prophet G. Mid-range MCUs from Infineon use Cortex-M4 core[J]. 2012.[9]赵海明. 近场测量及误差分析[D]. 西北工业大学, 2004.[10]孙鸣.天线柱面近场测试方法及其关键器件研究[D]，南京信息工程大学，2016.
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