基于单片机和LabVIEW的四探针法测薄膜电阻任务书

 2021-08-19 11:08

1. 毕业设计(论文)主要目标:

通过对下位机(单片机)和上位机(PC)中的LabVIEW软件的编程,组成可以采集和分析数据的系统,最终使用四探针法来测量出薄膜的方块电阻值。

2. 毕业设计(论文)主要内容:

利用LabVIEW和单片机组成一个数据采集系统来测量薄膜的电阻。作为薄膜的一个重要的电学性能,薄膜电阻往往通过方块电阻来表征。本论文使用四探针法测量薄膜的方块电阻,通过对下位机(单片机)的编程来完成对数据的采集核对上位机主要是LabVIEW的编程来完成数据的分析和输出。

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3. 主要参考文献

  1. 毛建东. 基于LabVIEW的单片机数据采集系统的设计[J]. 微计算机信息,2006,22(3-2):41-42.
  2. 陈晨,郭小鹏,杨威等. 基于四探针法测量玉米叶片电阻率的研究[J]. 内蒙古农业大学学报,2005,36(5):84-89.
  3. 鲁效明. 双位组合四探针法测量硅片电阻率[J]. 微电子学,1994,24(3):60-63.
  4. 郭龙钢,王宇炎. 基于LabVIEW的单片机串口数据采集系统[J]. 自动化技术与应用,2009,28(11):139-131.
  5. J A Chroboczek, J Link. Four-probe electrometer system for resistivity measurements [J]. Measurement Science and Technology, 1985, 18(7):568-570.
  6. J Jeong,J Kim, G Jun Lee, B D Choi, Intrinsic parameter extraction of a-InGaZnO thin-film transistors by a gated-four-probe method [J]. Applied Physics Letters, 2012, 100(2):6-10.
  7. D W F James, R G Jones. On the four-probe method of resistivity measurement [J]. Measurement Science and Technology. 1965, 42(4):283.
  8. J W Borchert, I E Stewart, A R Rathmell. etal. Effects of length dispersity and film fabrication on the sheet resistance of copper nanowire transparent conductors[J]. Nanoscale. 2015,7(34):14496.

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